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4G-LTE(TDD FDD)测试卡/CMW500 LTE测试白卡
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产品: 浏览次数:1984G-LTE(TDD FDD)测试卡/CMW500 LTE测试白卡 
单价: 20.00元/张
最小起订量: 1000 张
供货总量: 888888 张
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-04-15 16:45
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详细信息
  • 加工定制:是

LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡(又称白卡),使用于通讯工业生产的信号测试(LTE(Long Term Evolution,长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进,于2004年12月3GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术,显著增加了频谱效率和数据传输速率(峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s),并支持多种带宽分配:1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等,频谱分配更加灵活,系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化,减小了系统时延,降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区*广泛的,终端种类*丰富的一种4G标准。)。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试;手机在生产中需要对成品进行相关信号测试,却要进行大规模屏敝,需动用更多的人力物力及测试时间,使生产工艺繁杂及成本增加,测试卡可以实现信号至仪器到手机的**路径,让测试环境更加简洁,很好的解决了这一繁锁问题。测试卡可进行偶合测试,误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB,可用于终端和综测仪测试等。


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