介质损耗测试仪(厂家供应)
介电常数及介质损耗测试仪作为**一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内**的160MHz。 介电常数及介质损耗测试仪采用了多项**技术:
1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高**、幅度的高稳定。
7 计算机自动修正技术和测试回路**化 —使测试回路 残余电感减至**,彻底** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
GDAT-C型介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了**的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为**,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位.
仪器技术指标:
☆Q值测量:
a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
频率范围:20kHz~10MHz; 固有误差:≤5%±满度值的2%;工作误差:≤7%±满度值的2%;
频率范围:10MHz~60MHz; 固有误差:≤6%±满度值的2%;工作误差:≤8%±满度值的2%。
☆电感测量:
a.测量范围:14.5nH~8.14H。
b.分 档:分七个量程。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
☆电容测量:
a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);
b.电容量调节范围
主调电容器:30~500pF; 确 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
☆振荡频率:
a.振荡频率范围:10kHz~50MHz;
b.频率分段(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
c.频率误差:3×10-5±1个字。
☆仪器正常工作条件
a.环境温度:0℃~+40℃; b.相对湿度:<80%; c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
☆其他
a.消耗功率:约25W; b.净重:约7kg; c.外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
☆ Q合格指示预置功能
预置范围:5~1000。
四、主要配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一 套
附表 电感组典型测试数据
北广产品保修承诺:
1、设备保修两年,终身服务,三年内非人为损坏的零部件免费更换,保修期内接到用户邀请后,最迟响应时间为2小时内,在与用户确认故障后,我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务,尽快查清故障所在位置和故障原因,并向用户及时报告故障的原因和排除办法。
2、保修期内人为损坏的零部件按采购(加工)价格收费更换。
3、保修期外继续为用户提供**技术服务,在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。
4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。
CVT测量 独特自激法测量CVT功能,不需外加任何设备,可完成不可拆头CVT的测量。一次接线(三根电缆,不用倒线),一个测量过程(大约1分钟),两个醉终测量结果(C1和C2的介损及电容值)。测量过程中文显示,能实时监测自激电流值和试验电压(高压)值。能消除引线对测试的影响,测量结果准确可靠。
安全措施高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。
CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。
接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。
防误操作:具备防误操作设计,能判别常见接线错误,安全报警。
防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。
VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器,在严冬和盛夏都能清晰显示。全中
文操作菜单,操作提示各种警告信息,直观明了,不需查阅说明书即可操作。
打印 仪器附有微型打印机,以中文方式打印输出测量结果及状态。
RS232 仪器具有RS232接口,与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。
可选购与计算机通信应用程序。
技术指标:
使用条件 5℃—40℃ RH<80%
高压输出 2KV 5KV 10KV 三档
容 量 1000VA
精 度
tgδ范 围 精度(正、反接法)
tgδ<15% △ tgδ:±(读数*1.0%+0.05%)
△ C x :±(读数*1.0%+0.5PF)
15%
△ C x :±(读数*1.5%+1.0PF)
分 辨 率 tgδ: 0.01% Cx: 0.1pF
测量范围 tgδ<50% 30P
10KV Cx<20000P
5KV Cx<30000P
2KV Cx<60000P
电 源 AC 220V±10% 50±1HZ
电源谐波适应能力 ≤ 3%
电源脉冲干扰适应能力≤ 5%
外型尺寸 470(L)×320(W)×390(H)
重 量 30 Kg
高压电桥测试仪主要用于测量以下材料的介电性能:
1.固体绝缘材料:如橡胶、塑料、陶瓷、玻璃、高分子材料等,需确保材料均匀无气泡,厚度公差控制在±0.1mm内。
2.液体绝缘材料:需使用专用容器盛放,避免污染和挥发,测试前需静置消泡。
3.特殊材料:如压电陶瓷、复合材料等,需根据材料特性定制电极和测试条件。
二、样品制备具体要求
1.尺寸与形状:
a.固体样品需裁剪为标准尺寸(如直径50mm的圆片或方形片),边缘需光滑无毛刺。
b.液体样品需使用带盖的测试容器,避免外界湿度影响。
2.表面处理:
l清洁:使用无水乙醇或丙酮去除表面油污、灰尘,避免局部放电。
l导电性处理:非导电样品需喷薄炭膜(厚度≤0.1μm)以防止电荷积累。
3.电极安装:
l采用标准化电极(如铝箔、铜片),接触面需抛光,确保与样品紧密贴合。
l电极间距需调节(误差≤0.01mm),避免电场分布不均。
三、特殊测试条件下的处理
1.温湿度控制:
l高温测试:样品需在恒温箱中预热至测试温度(如60℃),避免热应力影响。
l高湿环境:需使用防潮箱控制湿度(如RH≤30%),防止吸湿导致参数漂移。
2.高频测试:
l高频材料(如射频陶瓷)需使用低损耗电极(如银浆涂覆),减少寄生电容影响。
3.安全防护:
l高压测试时,样品需固定于绝缘支架,避免电极间短路。
四、常见问题与解决方案
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问题 |
原因 |
解决方案 |
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测试数据波动大 |
样品厚度不均或表面污染 |
重新研磨至公差内,清洁后测试 |
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击穿电压异常低 |
电极接触不良或存在杂质 |
检查电极贴合度,更换清洁样品 |
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介质损耗值偏高 |
材料吸湿或测试环境湿度超标 |
干燥处理样品,控制环境湿度 |
通过以上步骤,可确保样品满足高压电桥测试的要求,获得准确的介电性能数据。
高压电桥介电常数介质损耗测试仪详解
一、基本原理与结构
高压电桥介电常数介质损耗测试仪基于西林电桥经典线路设计,通过测量介质损耗角正切值(tanδ)和电容量来评估绝缘材料的介电性能。其核心结构包括:
1.桥体:由标准电容器(Cs)、可调电阻(R3)、可调电容(C4)及固定电阻(R4)组成,通过平衡条件计算被测样品(Cx)的介电参数。
2.高压电源:提供0-15kV测试电压,模拟实际工作环境下的电场条件。
3.检测系统:采用电子管放大器或数字检流计,测量桥臂不平衡信号。
二、技术参数与性能指标
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参数类别 |
典型范围/精度 |
备注 |
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电容量测量 |
40pF-20000pF(误差±0.5%Cx±2pF) |
支持固体/液体材料测试 |
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介质损耗(tanδ) |
0-0.1(误差±1.5%tgδx±1×10⁻⁴) |
高频抗干扰设计 |
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工作电压 |
0-15kV可调 |
分辨率1V |
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频率范围 |
1kHz-10MHz |
支持变频抗干扰 |
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温度适应性 |
-20℃~60℃ |
需恒温环境保证精度 |
三、在压电陶瓷测试中的应用案例
1. 替代法测量:通过标准电容(Cs)与被测压电陶瓷(Cx)的电流比值计算介电常数,实验数据显示误差≤0.5%。
2. 谐振法分析:结合电感L与谐振频率f₀,推导压电陶瓷的电容值,适用于高频材料特性评估。
3. 老化实验:长期监测tanδ变化,评估压电陶瓷绝缘性能退化趋势。
四、与其他测试方法的对比
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方法 |
优势 |
局限性 |
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高压电桥法 |
高精度(tanδ误差±1.5%)、工频适用性强 |
需手动平衡,操作复杂 |
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阻抗分析仪法 |
宽频段(1Hz-1GHz)、自动化程度高 |
成本高,介质损耗精度较低 |
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谐振法 |
适合高频材料(如射频陶瓷) |
需额外电感组件 |
五、操作注意事项
1. 样品制备:需平整无气泡,厚度公差控制在±0.1mm内。
2. 校准流程:包括空载、短路及标准件校准,年校准周期≤1次。
3. 安全防护:高压操作时需接地,避免接触裸露电极。
通过上述分析,高压电桥测试仪在绝缘材料、压电陶瓷等领域具有不可替代的精度优势,但需根据测试需求选择合适方法。
介电常数介质损耗测试仪特性及意义
一、核心特性
精密测量系统
·采用高频谐振法及电桥法相位差检测技术,通过对比标准电容器与待测样品的电流相位差,计算复介电常数(ε' 和 ε'')及介质损耗角正切(tanδ=ε''/ε'),测量精度可达微伏级信号分辨。
·配备三电极结构(保护电极、测量电极、高压电极),消除边缘效应,确保电场强度接近实际工况(如 IEC 60250 标准要求 1kV/mm)。
宽频与多参数覆盖
·支持频率范围从低频(20Hz)至高频(1MHz),部分型号可扩展至射频范围,满足不同材料的电学特性分析需求。
·同时测量电容、电感、电阻等参数,电容量覆盖范围从 3pF 至 30μF,适用于电容器、绝缘材料及复合材料的性能评估。
智能控制与扩展功能
·集成自动化测试流程,通过 PID 算法实现温度控制(-40℃至200℃),部分型号支持液氮低温扩展,适应环境测试。
·配备大容量存储和数据分析软件,支持数据导出、远程监控及报告生成,提升测试效率。
二、应用意义
材料研发与优化
·通过介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)的测量,揭示材料的极化能力、能量损耗特性及微观结构,指导新材料的开发与改性(如纳米复合材料表面处理优化)。
工业质量控制
·在电力系统中,检测绝缘材料(如高压电缆)的介质损耗可预防因温升导致的绝缘层老化或击穿事故,保障设备安全运行。
·优化电容器、电感器等电子元件的介质材料选择,提升高频工作条件下的 Q 值及元件寿命。
科研与标准验证
·研究介电驰豫现象及材料老化机制,通过不同频率和温度下的介电性能分析,揭示材料分子运动规律,为理论模型提供数据支撑。
·验证材料是否符合国际标准(如 IEC 60250),推动行业技术规范的制定与更新。
总结:介电常数介质损耗测试仪通过高精度测量与智能化设计,为材料科学、工业制造及基础研究提供关键数据,是保障材料性能优化和设备安全的核心工具。
电常数测试方法主要分为接触式和非接触式两大类,具体方法及其特点如下:
一、接触式测量法
电容法
·原理:将待测材料作为电容器介质,通过测量电容值计算介电常数。需注意消除边缘电容,常用保护电极技术。
·优点:操作简单、成本低。
·缺点:易受材料厚度和表面粗糙度影响。
·应用:电子材料、绝缘材料等领域。
谐振法(谐振腔法)
·原理:将材料置于微波谐振腔中,通过谐振频率变化计算介电常数。
·优点:精度高。
·缺点:设备昂贵且操作复杂。
·应用:高精度材料检测。
阻抗法
·原理:将材料视为电阻和电容的并联电路,测量阻抗后计算介电常数。
·优点:可减少材料厚度影响。
·缺点:操作复杂度较高。
二、非接触式测量法
.微波法
·原理:分析微波在材料中的反射/透射参数,推导介电常数。
·优点:测量速度快。
·缺点:设备成本高。
电压击穿测试仪,体积表面电阻率测试仪,介电常数介质损耗测试仪,漏电起痕试验仪,耐电弧试验仪,TOC总有机碳分析仪,完整性测试仪,无转子硫化仪,门尼粘度试验机,热变形维卡温度测定仪,简支梁冲击试验机,毛细管流变仪,橡胶塑料滑动摩擦试验机,氧指数测定仪,水平垂直燃烧试验机,熔体流动速率测定仪,低温脆性测试仪,拉力试验机,海绵泡沫压陷硬度测试仪,海绵泡沫落球回弹测试仪,海绵泡沫压缩永九变形试验仪
介电常数介质损耗测试仪的应用领域可分为以下方向:
一、介电常数介质损耗测试仪材料研发与性能优化
新型材料开发:评估陶瓷、聚合物、纳米复合材料等的极化机制与能量损耗特性,指导配方优化(如高聚物通过调整ε值提升耐高温性能)。
老化与失效分析:监测材料在温度、湿度变化下的介电性能演变(如高温下介电常数的非线性变化)。
食品与农业科学:通过介电常数间接检测果蔬含水率、发酵程度,或优化食品干燥、杀菌工艺参数。
二、介电常数介质损耗测试仪电子与电力工业
电容器与绝缘材料:测试聚丙烯薄膜(ε≈2.3)、电解液等介质的介电常数与损耗因数(tanδ<0.005),确保电容器储能效率和稳定性。
高压设备安全评估:检测变压器油、绝缘纸的介质损耗角正切值(tanδ),预防绝缘击穿风险。
电子元器件制造:评估液晶材料、半导体封装材料的介电性能,优化显示响应速度或器件可靠性。
三、介电常数介质损耗测试仪通信与航空航天
射频与微波材料:优化微波基板(如Rogers材料ε≈3.3-6.6)、天线材料的介电常数,提升高频信号传输效率。
及端环境适应性:测试航天器隔热材料、航空复合材料在真空或高辐射环境下的介电稳定性。
四、介电常数介质损耗测试仪工业质检与生产控制
化工与石油行业:检测有机溶剂、聚合物溶液的介电常数,优化涂料干燥性能或油品绝缘等级。
汽车与能源设备:评估电池隔膜、燃料电池电解质的介电特性,确保充放电效率与安全性。
建筑与土木工程:通过介电常数反演路基压实度或监测混凝土结构中的水分分布。
五、介电常数介质损耗测试仪跨领域创新应用
环境监测:利用土壤介电特性分析水土污染程度或预测地质灾害(如岩石介电异常与地震关联性)。
医疗与生物工程:研究生物组织或医用材料的介电响应特性,辅助开发新型传感器或诊断设备。

企业特殊行业经营资质信息公示
营业执照已认证
