高温热电材料参数测试仪
性能特点:
同步测量塞贝克系数和电阻系数
配置垂直或水平放样结构,满足不同用户的要求,方便样品操作
铂金大电极设计,与样品充分接触,对于不均匀样品的温差控制
上等应用程序控温技术,包括温差和测量步进等上等要求
0-50K范围的温差可随意设置温差及温差点的个数
自由升降温,可准确控制温度程序,进行升温恒温与降温过程中的数据测量
温度检测可选S/C型热电偶,*适合测量Si系列热电材料(SiGe,MgSi)等
热电偶探针非K型(无需铠装)配置,不会产生非常大的接触电阻
热电偶电锯可以根据样品尺寸调节或固定。满足不同科研要求
自动压力安全保护设计,确保测试过程不会发生爆炸
测量系统:柱状,片状,长方形,薄膜等系统
可选zui大测试10MΩ高电阻材料系统
强大的软件功能:
HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labiew系统开发,符合导体,半导体材料的各种测试需求,具备强大的稳定性与安全性,并具备断电资料的保存功能,图像资料可保存恢复,支持*新国际标准。兼容,XP,win7,win10系统。
使用界面
多语界面:支持中英文两种语言界面
即时监控:系统测试状态即时浏览,无需等待
图例管理:通过软件中的状态图示,一目了然,立即对状态说明,了解测试状态
使用权限:可设定使用者的权限,方便管理
故障状态:软件具有设备的故障报警功能
设备参数:
温度范围 | RT up to 1150℃ |
控温速率 | 0.01-100k/min |
控温确度 | +/-0.5K |
测量方法 | 塞贝克系数:静态直流电 电阻系数:四端法 |
测量范围 | 塞贝克系数:0.5μV/K-25V/K 电阻率0.2μΩhmm-2.5Ωhmm |
分辨率 | 塞贝克系数:10nV/K 电阻率:10nOhmm |
准确度 | 塞贝克系数:±7% 电导系数:±10% |
电流 | 0 to 220mA(可控准≤0.005mA) 横流设置分辨滤:100nA |
气氛 | He,氧化,还原,真空 |
真空度 | 10E-3mbar |
样品尺寸 | 直径或正方形:2to4mm;长度 6to22mm |