深圳市博纳邦德精密仪器有限公司 已通过实名认证

一、产品概述：

本套探针分别符合GB2099.1-2008标准中的图9及图10、IEC884-1.2002图9及图10要求，20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及，1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。 

二、技术参数

20N推力试验探针IEC-I20：探针部分3+0.03 0×1+0.015 0×80±0.5，端部倒圆R0.2±0.05，20N推力;

1N推力试验探针IEC-I21：探针部分Φ1+0.015 0×80±0.5，端部倒圆R0.05，1N推力  

三、使用方法

将探针端部接触试样，然后施力20N（1N），当探针凸出端A-A面与B-B面平齐即可。

主要规格及对应技术参数：

1.探棒直径：  Ф2.5+0.05   Ф2.5+0.05 

2.档球直径：  SФ35±0.2   SФ35±0.2

3.手柄直径：   Ф10        Ф10

4.探棒长度： 100±0.2     100±0.2

5.手柄长度： 100           ----

6.带推力：    ----        3N推力