企业特殊行业经营资质信息公示
点击图片查看原图Sensofar S wide 3D光学轮廓仪
大面积3D光学测量系统
S wide 是一款非接触式的 3D 轮廓测量仪，与接触式轮廓仪或激光轮廓仪不同，它利用光来扫描表面而不会造成样品的损坏。它具有很强的抗震性，可在各种环境中使用。它的用户体验十分舒适，工作距离为 80 毫米，无需 Z轴的电动平台，使用非常安全。
快速测量
测试汇总只需一秒钟。利用 S wide 的条纹投影技术和一系列不同的汇总模式，可以优化测量以实现高处理效率。
产品优势
• 亚微米高度可重复性，可扩展整个区域内
• 无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度
• 具有极低场失真的双侧远心镜头，提供菁确的测量
• 可追溯性：采用ISO 标准，每一款 S wide 产品都能够提供准确和可追溯的测量结果。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
• 与 3D CAD 模型的形状偏差：提供几何差异和公差测量
• 表面纹理测量仪器的校准，我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。
产品特点：
易于使用
使用 S wide 进行测量非常简单：加载样品、设置方法以及检查结果。
高分辨率 3D 成像
捕捉每个细节
这款 3D 扫描仪配备 500 万像素彩色摄像头，加上数字变焦功能，可捕捉样品的各种细节。
大型设置
借助 300 x 300 毫米的平台配置，可测量大量样品阵列和大面积区域。
菁准的数据提取
S wide 配备了一套分析工具，可以从测量数据中提取有用的信息：粗糙度和平整度参数、关键尺寸、GD&T 和 CAD 比较。
捕捉一切
强大的拼接功能使 S wide 能够汇总大面积的测量数据。此外，用户还可以使用直观的概览图像轻松定义测量布局，并选择矩形、圆形或环形的感兴趣的区域。
S wide 是一款基本的3D光学成像系统，可在提高生产率的同时提升质量流程。它将300 x 300 毫米的扩展工作区域与包含自动化工具的彩集软件相结合。
测量众多样本
彩集软件提供完全自动化的测量程序。它具有在不同位置轻松编程测量的工具。其他功能如基准对齐、用户管理或样品识别。此外，可以配置数据导出，使其与您的生产管理要求良好匹配。
选择您的理想配置
S wide提供四种不同的配置，适用于各种场景，无论是用于研发的标准设置还是用于在线过程控制的高级解决方案。最大的结构可以容纳面积高达300 x 300 mm²、高度高达350 mm的样品，从而大大拓宽了其应用范围。
快速的3D 成像
S wide提供快速测量，最大限度地缩短循环时间。它有效地覆盖了表面大面积， 而不需要Z轴移动。此外，可定制的条纹投影模式进一步优化了测量时间，以实现最大效率。
自适应算法
该成像设备经过精心设计，采用了不同的条纹投影算法模式。
可追溯性
每个S wide的制造都是为了提供准确和可追溯的测量。根据ISO 25178和VDI 2634-2，使用可追溯的标准对系统进行校准。
光学测量系统
S wide 是一种非接触式 3D 轮廓测量仪，与接触式轮廓仪或激光轮廓仪不 同，它利用光来扫描表面而不会造成样品的损坏。它具有很强的抗震性，可在各种环境中使用。它的用户体验十分舒适，工作距离为 80 毫米，无需 Z轴的电动平台，使用非常安全。
强大的单次拍摄获取能力
我们的结构光系统提供了大视场（FOV）和焦深，使其能够捕获令人印象深刻的35 x 29 x 40 mm区域。换句话说，仅需一次拍摄即可测量体积40.6 mm3， 从而电动载物台无需Z 轴的移动。
技术
条纹投影是一种宪进的光学技术，涉及两个投影仪，用结构光照亮样品。畸变的光线图案由摄像头通过远心镜头捕获，从而能够准确获取物体的3D形状。
亚微米重复性
S wide使用专有边缘投影算法可实现微米级精度，在广阔的测量表面上提供良好的亚微米级精度重复性。
高效的数据提取
S wide 配备了一套分析工具，可以从测量数据中提取每条信息：粗糙度和平整度参数、关键尺寸、GD&T 和 CAD 比较。
