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点击图片查看原图SunScan 冠层分析系统
一 用途：
SunScan冠层分析系统通过测量作物冠层PAR值提供了关 于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
二 原理：
SunScan冠层分析系统根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
三 软件计算
SunScan冠层分析系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：
直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的。
四 组成：
l SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器
l SunData软件：用来对测量参数进行分析处理
l BF5传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。内置自加热功能，减少雪冻影响。
l 三角架：用来安放BF5
l 数据***终端：一种***和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。
五 基本技术指标：
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SS1探测器 |
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探测器工作区域 |
1000× |
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探测器光谱响应 |
400 ~ 700nm (PAR) |
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探测器测量时间 |
120ms |
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探测器分辨率 |
0.3μmol. m-2.s-1 |
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探测器**读数 |
2500μmol.m-2.s-1 |
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操作温度 |
0 ~ |
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BF5 |
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PAR测量范围 |
0-2500μmol.m-2.s-1（总的和散射） |
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PAR精度 |
总辐射 |
±10μmol.m-2.s-1±12% |
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散射 |
±10μmol.m-2.s-1±15% |
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工作温度 |
-20到+ |
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太阳总辐射测量范围 |
0-1250 W/m2 |
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总辐射精度 |
总辐射 |
±5 W/m2 ±12% |
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散射 |
±20 W/m2±15% |
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光照度测量范围 |
0-200klux |
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光照度精度 |
总辐射 |
±0.6klux±12% |
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散射 |
±0.6klux±15% |
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电缆长度 |
标准为 |
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RPDA2手持终端 |
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屏幕 |
1/4VGA屏幕，太阳光下依然显示清晰 |
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操作系统 |
Windows Mobile6 |
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显示项目 |
LAI、PAR平均值、每个传感器的读数 |
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手持终端工作环境 |
IP67防护等级，-30-60℃ |
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1手持终端存储 |
支持>100M |
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六 产地： 英国
