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PCT和HAST主要用于半导体封装的吸湿能力，当被测产品在恶劣的温度、湿度和压力下测试时，水分会沿胶体或胶体与引线框架的界面渗入封装。广泛用于测试EVA胶水、TPT薄膜、光伏玻璃、PCB、多层电路板、ic半导体、LCD光学器件、电子元器件、塑封器件/材料、磁铁/磁性材料等的密封性能

测试光伏组件的耐压、气密性、失重试验、饱和稳态湿热试验、加速老化筛选试验、高可靠性和寿命加速试验。常见的失效模式有有源金属化区域腐蚀导致的开路，或污染导致的封装引脚间短路等。加速寿命试验的目的是增加环境应力(如温度)和工作应力(如施加在产品上的电压和负载)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。那么PCT和HAST有什么区别呢？为方便客户选择，希望对客户选择有所帮助:HAST试验箱的主要作用是:温度、压力、湿度可以随用户的试验条件随意设定，不受饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度的影响，即不饱和控制。也就是说，可以根据用户的测试条件任意设置测试温度、压力和湿度。这时就会出现一个问题:非饱和状态下湿度的准确性。仪器使用的湿度检测装置是通过干湿球对比，根据试验箱内的真实环境来显示和控制的，不是通过换算关系来显示和控制的，所以其准确性是有保证的。PCT试验箱的主要作用是:压力是温度对应的饱和压力显示，湿度也是温度对应的饱和蒸汽压力。也就是说，测试温度是随着用户的测试条件确定的，饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度也是确定的。温度对应的饱和蒸汽压力有对应关系。HAST试验箱规格要求:1.内胆采用圆弧设计，结合安全容器标准，可防止试验中出现结露滴漏现象，避免产品在试验过程中受到过热蒸汽的直接冲击，影响试验结果。2.配备双层不锈钢产品架，或可根据客户产品规格免费定制特殊产品架。3.HAST测试箱标配8个测试样本信号应用端子，端子数量也可根据需要增加。4.有专门的样品架，避免复杂的布线操作。