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    企业单位

  • 经营模式:

    制造商,服务商

  • 荣誉认证:

          营业执照已认证  

  • 注册年份:

    2011

  • 主     营:

    高低温试验箱,高低温湿热试验箱,快速温度变化试验箱,冷热冲击试验箱,步入式高低温湿热试验箱,温湿度振动三综合试验箱,高低温低气压试验箱,工业烤箱,太阳辐射试验箱

  • 地     址:

    东莞市常平镇土塘村红花岭地段长城聚怡大厦一楼东面厂房

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半导体芯片高低温湿热试验箱常用试验项目
发布时间:2023-06-29        浏览次数:30        返回列表

半导体芯片高低温湿热试验箱是一种专门用于对半导体芯片和电子元器件进行高温、低温和湿热环境测试的设备。

它可以模拟不同的环境条件,以评估芯片和元器件在极端温度和湿度下的性能和可靠性。

根据相关标准,可以对半导体芯片进行的试验有以下5个:

1. 高温储存

测试条件:85℃±5℃

持续时间:1000h

2. 低温储存

测试条件:-40℃±5℃

持续时间:1000h

3. 温度循环

测试条件:-40℃~85℃

持续时间:200个循环

4. 湿热循环

测试条件:40℃~85℃,RH=85%

持续时间:10个循环

5. 高温高湿寿命测试

测试条件:85℃、85%RH

持续时间:1000h

 

 
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