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| CCD综合特性演示仪 | 在文字识别、图形识别、边缘识别等应用中，很多时候需要把图形或信号二值化，其目的是将复杂的图形或信号简单化，以便再作进一步处理。在本实验中我们主要介绍如何运用了二值化的方法测量物体的尺寸，同样在应用CCD测量物体位移或速度的时候也需要进行二值化处理。 技术参数： 1、本仪器由CCD实验仪主机、CCD传感器、镜头和实验导轨等构成； 2、空间分辨率：像素达2000个点、分辨率达几个微米； 3、具有时序输出接口、微机观察二值化输出； 4、A/D转换时，幅度分辨率：1/256(8位量化)，图象细腻，无需额外处理； 5、仪器可以用于CCD原理实验、非接触式测量实验。 实验内容： 1、线阵CCD原理及驱动； 2、线阵CCD特性测量实验； 3、线阵CCD输出信号的二值化； 4、线阵CCD的A/D数据集； 5、利用线阵CCD测量物体尺寸。 |
