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| 微小长度测量综合系统 | 仪器组合了多种方法测量微小尺度的长度或位移， 是一套原理和应用相结 合的综合性和实践性很强的实验仪器。 主要实验内容： 1、用千分尺测量细丝的直径、纸张的厚度及弹簧的微小伸长量； 2、用读数显微镜测量细丝的直径或薄纸厚度； 3、用压阻力敏传感器和胡克定律测量弹簧的微小伸长量； 4、用霍尔传感器测量金属片的微小弯曲量； 5、用双光栅干涉法测量音叉的微小振幅； 6、用位移传感器测量横梁的挠度和杨氏模量。 主要技术参数： 1、千分尺： 测量范围 0-25mm，分辨率 0.001mm；测量弹簧的劲度系数（约 20-50N/m 之间）； 2、读数显微镜：放大倍数 30 倍； 3、应变式压阻力敏传感器测量范围： 0 ～ 100g，数表分辨率约 0.05g，定标 砝码 70g； 4、霍尔传感器测位移：供电电压 5V，梯度磁场表磁强度约 100mT； 5、由 100 线/mm 的动光栅和静光栅组成双光栅，动片安装于音叉上，静片 位臵可三维调节；半导体激光器波长 635nm；双光栅驱动电流可调节， 并有 3 位半电流表显示， 驱动频率可快慢速调节， 并由 5 位频率表显示； 6、位移传感器测量范围 0-50mm，分辨率 0.01mm，可清零，横梁跨度约 300mm，带测量用砝码块。 7、双光栅实验需用户另配双踪示波器。 |
