| 半导体器件特性测量 | 1 、工作电压:AC220V±10%50Hz 2 、测量精度: ≤5% 3 、外形尺寸:350×280×80nm 本仪器将传统的“半导体特性测试仪 ”浓缩成测试卡 的形成,将其插入微机的扩展槽中,在软件的支持下 实现对晶体三极管、场效应管、可控硅元件、二极管 等半导体器件快速测量,并可把结果存盘或打印。 本仪器还设计了将测量数据二次数学处理的软件,便 得测量时不仅能在屏幕上显示晶体管的输出、输入曲 线,并且能自动显示不同电流下的电流放大倍数,跨 导,二极管的理想因子, βIc 曲线等等。(微机自 备) |

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