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日置C测试仪3506-10又称日置电容测试仪3506-10对应1MHz测试,低容量,高精度,高速测试

模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量

提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度

1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量

根据BIN的测定区分容量

日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10基本参数

测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tanδ)

测量范围 C:0.001fF～15.0000μF

D: 0.00001 ～1.99999

Q:0.0 ～19999.9

基本精度 (代表值)C:±0.14% rdg.D:±0.0013

测量频率 1kHz, 1MHz

测量信号电平 500mV, 1V rms

输出电阻 1Ω(在1kHz时2.2μF以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间 1.5ms：1MHz，2.0ms：1kHz

机能 BIN分类测量,触发同步输出,测量条件记忆,测量值比较功能,平均值功能, Low-C拒绝功能,振动功能,电流检测监视功能,输出电压值监视功能,控制用输入输出(EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz,**40VA

体积及重量 260W ×100H×298Dmm,4.8kg

日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10附件 电源线× 1,电源备用保险丝×1，使用说明书×1

日置HIOKI电学测试产品是本公司强项品牌价格非常有优势欢迎询价

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