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技术分享丨IGBT封装空洞的隐患和影响因素
发布时间:2019-02-18        浏览次数:84        返回列表

摘自:CEIA电子智造

       IGBT作为重要的电力电子的核心器件,其可靠性是决定整个装置安全运行的**重要因素。由于IGBT采取了叠层封装技术,该技术不但提高了封装密度,同时也缩短了芯片之间导线的互连长度,从而提高了器件的运行速率。但也正因为采用了此结构,IGBT的可靠性受到了严重挑战。由于IGBT主要是用来实现电流的切换,会产生较大的功率损耗,因此他的散热是影响其可靠性重要因素。


       一、焊接层空洞是影响IGBT可靠性的重要因素

IGBT模块封装级的失效主要发生在结合线的连接处,芯片焊接处和基片焊接处等位置。尤其两个焊接处,是IGBT主要的热量传输通道,焊接处的焊接质量是影响其可靠性因素的重中之重。


       研究表明,焊料层内的空洞会影响温度热循环,器件的散热性能降低,这也会促进温度的上升,影响期间在工作过程中的热循环,造成局部温度过高,从而加快模块的损坏。有调查表明,工作温度每上升10℃,由温度引起的失效率增加一倍。并且,应力与应变之间存在着滞回现象,在不断地温度循环当中,材料的形状实时地发生改变,这又增加了焊料层的热疲劳。因此对于IBGT封装来说,**重要的就是要降低焊料层内的空洞。


二、IGBT焊接层容易产生空洞的原因

        焊接层空洞的产生,主要是由于焊接材料中的挥发物留着焊接层中造成,而IGBT的芯片通常都比较大,长会达到10mm-20mm,并且DBC的尺寸通常在20mm-40mm,如此大的焊接面积,给焊接材料中的挥发物挥发造成很大困难。因此IBGT焊接层的空洞成为人们极力解决的问题。而对于IGBT高可靠性的要求,空洞率必然是封装环节的一个重要控制因素。通常小家电、普通电气装备用的IGBT要求空洞率<5%,对于轨道交通、**航天等领域,空洞率要求更加苛刻,甚至需要达到0.1%以下。


三、IGBT封装形式和空洞的关系

一)焊接材料形式:

1、焊片:是当前IBGT领域使用**为广泛的焊料

优点:有机组份使用量少,空洞低。

缺点:操作不方便;每种产品需要特定尺寸的焊片。


2、锡膏:使用锡膏是近几年IGBT封装领域逐渐兴起的工艺

优点:操作方便,成本低,适用各种规格产品的焊接。

缺点:大量有机组分挥发容易造成空洞;必须清洗掉残留物。

 

       使用锡膏焊接,为了促进锡膏内挥发物的挥发,通常会将锡膏印刷成若干矩形的阵列,尤其印刷在基板与DBC之间的锡膏,锡膏之间的通道会方便挥发物的排出。但这要求锡膏的挥发性和润湿性与工艺有很好的匹配,否则在沟槽处很容易产生空洞。 


3、纳米银/铜膏:对于高温使用环境,需要焊接层具有更高的耐温性和导热性。纳米银膏或纳米铜膏利用其纳米尺寸效应,可在低温下实现烧结,达到互连效果,可获得空隙率较低的烧结层,并且烧结层可恢复到银或铜的常规熔点,相对于当前的锡基焊料又具有更好的导热性能,是未来大功率IGBT封装理想的互连材料。

 

优点:通过加压烧结可获得低空隙率烧结层,烧结层导热性优异、耐高温,可靠性高;

缺点:成本较高,当前只适合高端产品封装


二)焊接工艺

一次封装:DBC/基板和DBC/芯片同时放置焊料,一次过炉实现同时焊接。

优点:效率高;

缺点:两层焊料同时熔化,陶瓷片在上下两层熔融焊料间浮动,增加空洞排出的难度。

 

阶梯封装:先将DBC/基板之间使用高熔点焊料进行焊接,然后DBC/芯片之间使用低熔点焊料二次焊接(二次焊接时,一次焊接的焊料不熔化)。

优点:避免DBC在熔融焊料间浮动,空洞率较低;

缺点:生产效率低。

 

三)焊接炉的选择

对于要求高的IGBT产品须使用真空炉焊接,真空负压有利于锡膏中挥发物的排出。

但真空度和真空时机应与锡膏匹配,否则不易达到理想的效果。


来源:赵朝辉 微纳互连

 

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