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Bruker  探针式表面轮廓仪（台阶仪）DektakXT

(一)、概述

布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5Å。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界ling xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。

台阶高度重复性优于5埃（<5 Å）

单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性

**的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆

操作简便，高效易用

直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程

独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量

自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针

探针式轮廓仪的全球ling 导 zhe

性能卓越，物超所值

完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障

(二)、历史：技术创新四十余年

过去四十年间，世界范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以**、可靠、高效等特性广受赞誉。