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仪器仪表,半导体分立器件测试,测试服务
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中昊芯测光耦参数测试仪

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产品
中昊芯测光耦参数测试仪
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2026-07-29 11:46
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产品介绍
加工定制:
类型:综合参数测试仪
型号:YCT1400A

YCT1400A光耦参数测试仪

1、YCT1400A光耦参数测试仪产品简述

YCT1400A光耦参数测试仪是一款布局紧凑、功能全面、界面友好、操作简洁的单机测试仪器。专为各类光耦参数测试而设计开发,可测试各类单通道、双通道、多通道的模拟光耦,数字光耦,高速光耦,线性光耦等。测试参数包括“耐压BVCEO/BVECO"“输入正向压降 VF”、“输出端反向漏电流 ICEO”、“反向漏电流 IR”“电流传输比 CTR""箱出导通压降 VCE(sat)"…可测具体参数数值也可以进行筛选性测试,既合格/不合格(OK/NO).

产品前面板设有“显示屏区域”“操作按键区域”“接口区域”。基于飞思卡尔16 位单片机编程的操作程序包含测试程序编辑、程序调用、数据保存、功能类型等常规设置。10档位分档设计,耐压测试电压1400V/可扩展,测试正向压降和输出电流可达 1A/可扩展。

2、YCT1400A光耦参数测试仪产品特点

测试各类三极管型的光电耦合器

1通道、10档位

源自飞思卡尔 16 位单片机编程

大容量 EEPROM 存储器可达 1000 种设置型号数

可编程的 DUT 恒流源和电压源

内置继电器矩阵自动切换信号通道

高压测试电流分辨率1uA,测试电压高达1400V

重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题

桌面台式单机,软件自校准功能

3、YCT1400A光耦参数测试仪参数指标

耐压BVCEO/BVECO

测试范围0-1400V

分辨率1V精度<2%+2RD测试条件0-2mA

输入正向压降VF

测试范围0-2V

分辨率2mV精度<1%+2RD测试条件0-1000mA

输出端反向漏电流ICEO

测试范围0-2000uA

分辨率1UA精度<5%+5RD测试条件BVCE=25V

反向漏电流IR

测试范围0-2000uA

分辨率1UA精度<5%+5RD测试条件VR=0-20V

电流传输比CTR

测试范围0-9999

分辨率1%精度1%+5RD测试条件BVCE:0-20V测试条件IF:0-100mA

输出导通压降VCE(sat)

测试范围0-2.000V

 

分辨率2mV精度1%+5RD测试条件IC:0-1.000A测试条件IF:0-1.000A

 

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