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企业特殊行业经营资质信息公示
连接示波器、功率分析仪、双脉冲测试台或栅极驱动电路
可进行：静态 IV 测试、动态 Rds(on)、开关损耗、双脉冲测试（DPT）
STI（Scientific Test, Inc.）测试夹具
是美国 STI 公司为其 5000 系列分立器件参数测试仪（如 5000E/5300C/5300HX）配套的标准化测试夹具（Test Fixture），用于将被测分立半导体器件（二极管、BJT、MOSFET、IGBT 等）可靠接入测试系统，尤其以
开尔文四线制（Kelvin Connection）
设计著称，适合功率器件 Rds(on)、Vf 等低阻参数精密测试。
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特性
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说明
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开尔文四线制
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Force（电流激励）与 Sense（电压采样）独立走线，消除引线/接触电阻影响，保证低阻测量精度
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模块化封装适配
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不同型号对应不同封装（TO系列、DPAK、SOP、DFN、SO-8 等），换夹具即可在同台主机测多种器件
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接触件
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镀金探针/弹簧夹，长期接触电阻稳定
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防呆设计
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清晰引脚标识，防止器件反插损坏
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兼容主机
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STI 5000E / 5300C / 5300HX 等分立器件参数分析仪
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连接示波器、功率分析仪、双脉冲测试台或栅极驱动电路
可进行：静态 IV 测试、动态 Rds(on)、开关损耗、双脉冲测试（DPT）
