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局部放电检测仪的局部放电电检测法，即是基于电荷转移和电磁辐射这两个原理。

  介质损耗分析法(Dielectric loss analysis， DLA)局部放电对绝缘材料的破坏作用与局部放电消耗的能量直接相关，因此对放电消耗功率的测量能够定性反映出局部放电性质。

  Tgo能够反映介质损耗， 介质损坏将导致tgo增加。因此可以通过测量tgo值来反映局部放电能量，从而判断绝缘材料和结构的性能情况。http://www.hzdq.com/index.php/index-view-aid-177.html。

  介质损耗分析法(Dielectric loss analysis，DLA)介质损耗分析法特别适用于测量低气压中存在的辉光或者亚辉光放电。

  辉光放电不产生放电脉冲信号，而亚辉光放电的脉冲上升沿时间太长，普通的脉冲电流法检测装置中难以检测出来。

  但这种放电消耗的能量很大，使得tgo很大，故只有采用电桥法检测tgo才能判断这种放电的状态和带来的危害。

  介质损耗分析法方法只能定性测量局部放电是否发生，不能检测局部放电量的大小， 这限制了介质损耗分析法方法的运用。可以采用介质损耗分析法判断是否存在局部放电，然后再结合武汉市合众电气局部放电检测仪检测局部放电量的大小。