光合薄膜 AI 视觉检测，0.02mm 缺陷全检出

光合智能深耕卷材视觉检测多年，整套系统分为

定制光学硬件层、AI 算法软件层、全流程闭环管控层

三大模块，可直接加装于涂布机、复卷机、吹膜机、分切机、流延机、锂电隔膜生产线，无需大规模改造原有设备，同时支持实验室离线小样检测。

1、工业级定制光学成像硬件（检测根基）

成像质量直接决定检出与误报水平，通用标准化光源无法适配透光、高反光膜材，光合工程师根据薄膜材质一对一定制光路：

• 透明膜（干膜、隔膜、离型膜）：透射背光方案，放大针孔、漏涂明暗差；
• 高反光膜（金属箔、光学硬化膜）：柔光反射光路，消除镜面反光干扰； 全套硬件标配： 高速线扫 CCD 相机 + 最高 16K 高清工业镜头；美国 CREE 高亮线性 LED 光源，使用寿命 6 万小时；Intel 13 代高性能工控主机；一体化防尘散热工业机柜，支持 7×24 小时无尘车间不间断运行。 核心硬件参数： 检测精度：0.02mm×0.02mm 适配幅宽：任意宽度按需定制 最高检测速度：600m/min 缺陷输出：声光报警、卷材边缘自动贴标、PLC 联动停机

2、自研深度学习 AI 算法大脑

区别于传统固定规则算法，光合搭载 CNN 深度学习模型，针对薄膜低对比度、基材纹理干扰深度优化：

1. 少量缺陷样本即可完成模型训练，快速适配新配方、新型瑕疵；
2. 自动区分晶点、漏涂、蚊虫、孔洞、划伤等数十类缺陷，**分类；
3. 智能过滤辊道纹理、粉尘带来的伪缺陷，系统误检率低于 0.5%，核心缺陷检出率 99.98%；
4. 实时逐帧处理高速图像，600m/min 产线无延迟、无卡顿。

3、全流程缺陷闭环 + 数字化溯源体系

系统不只是单纯检测设备，完整搭建从瑕疵识别到工艺优化的全链路品控闭环：

1. 缺陷即时声光提醒，联动贴标机**标记瑕疵位置，后道分切快速剔除不良段，减少原料损耗；
2. 密集针孔、长条漏涂等批量不良自动给产线输出停机信号，杜绝大批量次品；
3. 自动存储每卷缺陷图片、尺寸、坐标，生成缺陷热力分布图、多维度质检报表；
4. 开放标准接口，无缝对接工厂 MES、ERP 系统，完整品质档案留存，轻松通过头部锂电、PCB、光学客户审厂；
5. 管理人员依托缺陷分布数据，反向优化原料过滤、涂布压力、烘干温度，从源头降低缺陷发生率。

三、适配检测材料与产线设备

适配生产线

涂布机、复卷机、吹膜机、分切机、流延机、锂电隔膜自动化产线、实验室离线检测台

适配薄膜基材

感光干膜、锂电隔膜、光学增亮 / 扩散膜、PET/BOPP 离型膜、TPU 保护膜、食品医药包装膜、各类特种功能薄膜

全覆盖可识别缺陷

晶点、凝胶颗粒、针孔微孔、蚊虫异物、硅油 / 胶层漏涂、表面脏污、膜面划伤、气泡、褶皱、水纹印、横纹、彩虹花斑、贴合印痕