企业特殊行业经营资质信息公示
营业执照已认证 
点击图片查看原图铜镀镍镀金多镀层涂镀测厚仪
仪器特点：
1．仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。
2．同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3．可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种。
4．无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
5．检出限可达到2ppm。
6．分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
7．采用美国原装、国际**的探测器，能量分辨率高。
8．采用美国原装、国际**的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。
9．X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10．采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11．采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12．采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。
13．高度传感器。
14．保护传感器，有效保护探测器。
15．**度高，稳定性好，故障率低。
16．辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护，辐射安全性可靠。
17．WINDOWS XP中文应用软件，独特**的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便。
铜镀镍镀金多镀层涂镀测厚仪
仪器的技术特性
1．X-Y-Z样品平台移动装置
Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
2. X射线管激发系统
激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。**功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际**水平的X光管，指标达到国际**水平。**功率50W，管压5-50KV；管流电流0-1000uA。
3．高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。*分辨率能达到149eV±5ev。
4．能谱仪电子学系统
原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。
5．计算机分析系统
****计算机；高分辨率彩色液晶显示器。
6．系统软件
国际**的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。
7．电源AC 220V～240V、50Hz。
额定功率：350W，选配高精度参数稳压电源。
8．仪器尺寸、重量
样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）
主机外形尺寸：580*500*580 mm（W*D*H）
主机重量：约50KG。
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比：
镀层标准厚度（µm） | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
镀层荧光厚度（µm） | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |
2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的，见下表：
镍镀层标准厚度（µm） | 0.15 | 0.85 | 1.30 | 2.15 | 4.56 | 8.13 | 9.55 |
镍镀层荧光厚度（µm） | 0.13 | 0.88 | 1.33 | 2.20 | 4.60 | 8.25 | 9.48 |
金镀层标准厚度（µm） | 0.23 | 0.45 | 0.75 | 1.15 | 1.22 | 1.53 | 1.65 |
金镀层荧光厚度（µm） | 0.21 | 0.43 | 0.77 | 1.17 | 1.26 | 1.55 | 1.58 |
