Thick-900系列铁镀镍镀金(Au/Ni/Fe)双层X荧光涂镀层测厚仪采用X荧光分析技术对各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。
我公司集中了国*****X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员,依靠**科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合中国的特色,开发生产出的Thick-900系列X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
铁镀镍镀金(Au/Ni/Fe)双层X荧光涂镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm。
X-Y-Z样品平台移动装置
Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置,具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。